CHY-115 涂層測厚儀/膜厚計 CHY115
產品特色：
■CE 認證合格
■可偵測導磁、非導磁材料
■資料儲存支援 255 筆
■可設定 Hi/Lo 警報蜂鳴的讀值範圍
■選擇平均值、最大值、最小值及最大值-最小值
■常用厚度量測點可使用快速一點校正
■兩點校正正常操作
■背光顯示
■使用者可選擇 μm/mils
■自動關機功能
CHY-115 涂層測厚儀/膜厚計 CHY115
一般規格：
顯示：31/2 位數字液晶顯示，最大 1999 讀值。
電池電壓不足顯示：當電池電壓低於操作電壓時，
" "顯示。
操作環境：0°C至40°C，相對濕度<90%R.H.。
避免有強度磁場的環境。
儲存環境：-20°C至60°C，0 至 80%R.H. (電池移除後)。
精確度測試環境：23°C±5°C，相對濕度<75%R.H.。
自動關機：15 秒。
尺寸：148mm(高)x105mm(寬)x42mm(厚)。
CHY-115 涂層測厚儀/膜厚計 CHY115
技術資料：
範圍：0 至 40.0mils (0 至 1000μm)
解析度：0.1mils/1μm
回應時間：1 秒
精確度：
±(4位)在0至7.8mils
±(10 位)在 0 至 199μm
±(3%+4 位)在 7.9mils 至 40mils
±(3%+10 位)在 200μm 至 1000μm
1397363482
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